我們日常（cháng）生活中，很多生活物品都經過鍍膜機鍍上了一層膜層，讓產品不僅（jǐn）變得更美觀，也更實用。但是很多人會（huì）有一個（gè）疑問，那（nà）既然是鍍了一層膜（mó）層，薄膜肯定是有厚度大小的，那麽薄膜厚度具體多（duō）厚呢，以及怎麽去測量？

       薄膜必須沉積（jī）在基底之上， 所以離開了基片也（yě）就無從談（tán）薄膜沉積的問題。基片的清洗好壞又對薄膜（mó）的質最有極共重要的（de）影響。同時在薄膜的製作中還必須知道薄膜的厚度，脫離了薄膜（mó）的厚度來（lái）談薄膜性質的測最也是亳無意義的。 所以， 膜厚的測量和基片的清洗可以說是和薄（báo）膜製作相關的重（chóng）要技術。一般所謂（wèi）的厚度是指兩個（gè）完全平整的平行平麵之間（jiān）的距（jù）離，這個概念是一個幾何概念。

        理想的薄膜厚度是指基（jī）片表麵和薄膜表麵之間的距（jù）離。在薄膜形（xíng）貌的三維度（dù）量中，相對於（yú）薄膜（mó）的厚度來講，其他兩維的度量可以說是無窮（qióng）大。由於實際上存（cún）在的表麵是不平整和不連續的，而（ér）且薄膜的內（nèi）部還可能存在著氣孔、雜質、晶格缺陷和表麵吸附分子等等，所有要嚴格地定義和精確地測量薄膜的厚度實際上是很困難的。

        膜厚的定義位當根據測址的方法和測址的（de）目的（de）決定。 因（yīn）此，同一個薄膜，使用不同的測量（liàng）方法（fǎ）會得到不同的結果， 即不同的厚度。

        在薄膜油（yóu）測（cè）量中的表麵並不（bú）是（shì）一個幾何（hé）的概念，而是一個 物埋概念，是指表麵分子（原子）的集合。 平均表麵是指表麵原子所有的點到這個麵的距離代（dài）數（shù）和等於零， 平均表麵是一個兒何（hé）概念。

        我們通（tōng）常將基片的一側的表麵分子的集合（hé）的平均表麵稱（chēng）為基片表麵（miàn）；薄膜上不和基片接觸的那一側的表（biǎo）麵的平均表麵稱為薄膜的形狀表麵（miàn），將所測量的薄膜原子重新（xīn）排列，使其密（mì）度和大（dà）塊狀固體材料完全一樣且均勻的分布在基片表麵（miàn）上，這時平均表麵稱為薄膜（mó）質量等（děng）價表麵；根據所測量薄膜的物理性（xìng）質等效（xiào）為一種長度和寬度與所測量的薄膜一樣的大塊固體材料的薄膜，這時的平均表麵稱（chēng）為薄膜物性等價表麵。 形狀膜厚是比較接近於直觀（guān）形（xíng）式的膜厚， 通常以µm為單位； 質量膜（mó）厚反映了薄（báo）膜中包含物質為多少，通常 以 µg/cm#8217;為單（dān）位， 物性膜（mó）厚在實際使用上（shàng）較有用， 而且比較容易測量。

         由於實際表（biǎo）麵並不平整（zhěng），同時（shí）薄膜製（zhì）作過程中又不可（kě）避免地要有（yǒu）各種（zhǒng）缺陷、 雜質和吸附分子等存（cún）在，所以不管用哪 一種方法來定義和測量膜厚，都是一個平均值，而且足包（bāo）括了雜質、缺（quē）陷以及吸附分子在內的薄膜的厚度（dù）值（zhí）。

        真空鍍膜機鍍膜是在（zài）真空腔體下進行鍍膜的，對於測量膜厚（hòu）度來說，是需要（yào）這方麵專（zhuān）業（yè）的（de）測量儀才（cái）能測出厚度大小。

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